【线上活动】T3Ster结构函数在实测中的应用分享
T3Ster热阻测试设备是一款满足JESD51系列标准的半导体器件封装热特性测试仪器,可以测量IGBT、MOS 管、功率二极管、三极管、LE...
【展会活动】第九届全国新型半导体功率器件及应用技术研讨会 | 贝思科尔邀请您的到来!
“第九届全国新型半导体功率器件及应用技术研讨会”将于2023年11月23~25日在广州召开,贝思科尔诚挚欢迎您参会。本次活动目的在紧跟国际功...
【活动回顾】SIEMENS电子系统设计研讨会圆满结束
在11月1号举行的SIEMENS电子系统设计研讨会上,贝思科尔和西门子EDA携手为参会嘉宾们带来一场别开生面的电子研发技术分享会。本次研讨会...
【活动回顾】Simcenter Power Tester功率循环测试设备新功能描述及系统性故障排除
10月19日,贝思科尔举办了《Simcenter Power Tester功率循环测试设备新功能描述及系统性故障排除》线上直播活动。在本次直...