新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI

产品名称:

新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI
  • 产品简介

业务咨询,可拨打13500040761,或电邮至george_qiu@basicae.com,或扫描文末微信二维码与我们联系!


  • 产品综述


T3Ster® [发音:tri-ster]SI -- the Thermal Transient Tester SI:新一代热瞬态测试仪,用于半导体分立器件的先进热特性测试仪,同时用于测试复杂多核IC、TTV芯片等的热特性。
新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI


  • 关键特性


Simcenter T3Ster SI根据客户的需求而量身定制:
1)减少用户不经意间所犯的错误
2)减少用户测试中所需的操作
3)支持远程操作设备,无需在实验室即可进行测量
4)支持相对复杂的测试,整个测试自动进行。
5)Simcenter T3Ster SI具有完全重新设计的系统硬件架构和控制软件
6)Simcenter T3Ster SI的优化:
• 可用性的优化
• 相对简单的集成
• 灵活的配置以及相对较高的测量/生产效率


  • 软件可用性优化


Simcenter T3Ster SI在软件上旨在通过简化测量设置来改善用户体验:
• 控制软件从零开始全新设计和实施
• 基于标准网络技术的客户端服务器架构
• 在标准机架内的嵌入式System-on-Chip上运行控制软件的服务器部分
• 在标准互联网浏览器中,包括Chrome浏览器,可以运行客户端-- 用户可以通过适当的网络连接从任何地方控制系统
• 客户端仅提供图形用户界面(GUI),所有测量操作由服务器端控制
• 控制软件客户端可以关闭连接,暂时挂起,测量将继续进行而不会中断
• 用户不再需要具有丰富的半导体、电路知识就能进行复杂的测量
• 重新设计的用户界面为操作人员提供简单易用的界面,但为有经验的工程师提供了高度的灵活性

新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI



  • 硬件可用性优化


Simcenter T3Ster SI一个标准机架最多可容纳10个插入单元(Plug in Units)
•实际的加热通道和测量通道数量可以根据客户需求和预算进行调整
•多达5个加热通道
•多达40个测量通道 – 适合多核IC或者TTV芯片的测试
•可将两台Simcenter T3Ster SI设备并行使用,最多获得80个测量通道的测试能力

新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI



  • 支持三极器件的测试模式


新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI



  • Simcenter T3Ster SI软件界面


新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI

新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI



  • 技术优势


瞬态热测试中自动化功能的实现
Simcenter T3Ster SI设备现在能够自动选择适当的测量范围和参考电压:
• 在正式开始瞬态热测试之前,设备会在被测器件上施加一个短的、大约几毫秒长的加热脉冲 -- 基于这个简短的测量,Simcenter T3Ster SI设备的算法将会选择适当的测量范围,以确保加热和冷却瞬态都适合
• 对于这个近似结果,用户提供的温度敏感参数和最大预期温度瞬态信息被使用
• 自动量程功能的参数可以在设备设置中调整
• 为加热阶段和冷却阶段测量定义不同的参考电压,因此可以使用更小的测量范围 -- 系统会根据测量状态自动改变参考电压。

新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI


与传统T3Ster相比。采样精度更高,电气噪音更小,测试原始曲线更加平滑。

新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI

新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI



  • 应用对象


Simcenter T3Ster SI设备可以应用在完整的半导体产业链:从器件到电子模块各种复杂的多核IC以及TTV芯片。


新一代瞬态热测试设备Simcenter T3Ster SI


更多业务咨询,可扫描下方二维码添加微信,或拨打电话13500040761,或电邮george_qiu@basicae.com与我们联系!

Tanner MEMS


产品推荐