功率循环测试系统如何运用

功率循环测试系统中的Power Tester设备是在T3Ster瞬态热测试系统基础上发展而来。T3Ster 系统作为智能化瞬态热测试系统,由硬件和软件组成,专门用于测量半导体器件热学属性。它与PC协同工作,可对瞬态热测试进行精 准控制,并通过T3Ster-Master软件对测试结果进行评估分析。Power Tester则带有两套软件,分别是Power Tester后处理软件和T3Ster Master 软件。

功率循环测试系统如何运用

一、强大的功能特性

Power Tester设备既能对包括IGBT器件在内的电力电子器件进行功率循环测试,施加应力测试,又能通过瞬态热测试进行热特性测量。在功率循环测试中,周期性进行的瞬态热测试所得结构函数,以及因监控指标值超标触发的瞬态热测试所得结构函数,能清晰呈现电力电子器件内部随着测试进行的降级过程。利用结构函数分析循环过程中封装结构的改变和缺陷,可实时、在线确认器件失效原因,无需将被测器件转移到实验室进行失效分析,确保了测试结果的精度和准确性,大大减少可靠性测试时间,甚至能将总测试时间缩短至原来的十分之一。

二、实际运用场景

在半导体器件生产和研发过程中,功率循环测试系统发挥着关键作用。例如在IGBT器件的测试中,通过对器件施加预先设置的加热功率,记录其热学反应,软件可分析处理温度随时间的瞬态变化曲线,从而得出热流路径上各层材料的热阻和热容特性。这有助于工程师了解器件的性能和可靠性,为优化设计提供依据。在电力电子领域,该系统可对不同类型的电力电子器件进行全面测试,确保其在实际应用中的稳定性和高效性。

功率循环测试系统以其强大的功能和高效的测试能力,为半导体和电力电子行业提供了可靠的测试解决方案。它不仅提高了测试效率和精度,还为产品的研发和质量控制提供了有力支持,推动着行业不断向前发展。