3月31日，贝思科尔的高级应用工程师王工在线分享了《MicReD在第三代半导体热阻及功率循环测试的方法及难点分析》。

本次直播分享了以下内容：

1，宽禁带器件的瞬态热测试难点分析

2，Micred在宽禁带器件热测试和功率循环测试的解决方案

3，宽禁带器件实测案例描述

4，宽禁带器件功率循环可靠性实验验证

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