几种常见器件(IC、MOSFET、IGBT、HPD、SiC、GaN等)热特性量测案例分享

上周三(8月4号),贝思科尔的高级应用工程师王工在线分享了《几种常见器件的热特性量测案例分享》。



本次直播分享了集中常见器件(IC、MOSFET、IGBT、HPD、SiC、GaN等)的热特性量测案例,主要讲解其原理,流程,测试方法,条件设置,结果分析与汇总等。



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在直播过程中,不少客户提出了他们的问题,我们的工程师一一为他们解答。

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(客户提出的部分问题)


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