【活动回顾】半导体科技前沿——GaN器件热特性测试与答疑

8月10日,贝思科尔举办了《半导体科技前沿——GaN器件热特性测试与答疑线上直播活动。在本次直播活动中,贝思科尔高级应用工程师王义浩作为主讲嘉宾,向大家介绍GaN器件的基础知识以及器件测试方法和案例,针对GaN器件工作过程中可能会遇到的一些问题展开讨论,分享与交流。


直播内容

【活动回顾】半导体科技前沿——GaN器件热特性测试与答疑

【活动回顾】半导体科技前沿——GaN器件热特性测试与答疑

【活动回顾】半导体科技前沿——GaN器件热特性测试与答疑

【活动回顾】半导体科技前沿——GaN器件热特性测试与答疑

部分讲义截图


直播回放

点击下图即可跳转小程序观看本次直播回放:

【活动回顾】半导体科技前沿——GaN器件热特性测试与答疑


如需本次活动的讲义资料,请添加微信
添加时请备注:单位名称-名字-职位



往期推荐 

热阻和功率循环后处理软件的新功能介绍

2022年度热设计二三事

HPD Module Rth&Power Cycling测试解决方案

芯片瞬态热测试实际应用案例分享


贝思科尔(BasiCAE),专注于为国内高科技电子、半导体、通信等行业提供先进的电子设计自动化(EDA)、工程仿真分析(CAE)、半导体器件热阻(Rth)及功率循环(Power Cycling)热可靠性测试,以及研发数据信息化管理的解决方案和产品服务。


更多业务咨询,请联系

【活动回顾】半导体科技前沿——GaN器件热特性测试与答疑

电话:13500040761

邮箱:george_qiu@basicae.com