几种常见器件（IC、MOSFET、IGBT、HPD、SiC、GaN等）热特性量测案例分享

上周三（8月4号），贝思科尔的高级应用工程师王工在线分享了《几种常见器件的热特性量测案例分享》。



本次直播分享了集中常见器件（IC、MOSFET、IGBT、HPD、SiC、GaN等）的热特性量测案例，主要讲解其原理，流程，测试方法，条件设置，结果分析与汇总等。



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在直播过程中，不少客户提出了他们的问题，我们的工程师一一为他们解答。

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（客户提出的部分问题）


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