【活动回顾】热仿真及测试技术线上研讨会
【活动回顾】热仿真及测试技术线上研讨会
2021年12月16日，贝思科尔举办《热仿真及测试技术线上研讨会》线上研讨会。本次活动主要由王义浩和李波老师来为大家进行分享。本次活动的主题...
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热仿真及测试技术线上研讨会
热仿真及测试技术线上研讨会
尊敬的业内朋友们，感谢大家对贝思科尔的信任与支持。由于疫情影响，为减少疫情传播，我司原计划11月26日举办的苏州站线下活动更改为12月16日...
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几种常见器件（IC、MOSFET、IGBT、HPD、SiC、GaN等）热特性量测案例分享
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上周三（8月4号），贝思科尔的高级应用工程师王工在线分享了《几种常见器件的热特性量测案例分享》。本次直播分享了集中常见器件（IC、MOSFE...
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【8月4号线上活动】几种常见器件的热特性量测案例分享
【8月4号线上活动】几种常见器件的热特性量测案例分享
近年来随着半导体产品技术的更新换代，对研发工作提出了严峻的挑战。电子元器件的发热问题对产品可靠性的影响在半导体(IC /Mosfet /IG...
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